输入公差、过程能力 Cp、要求 Cpk 下限与抽样数，实时计算放行带，并用 OC 曲线展示「真实中心偏移 → 接收概率」。
注：①每件产品须在公差内；②双侧：样本均值须落金色带(M±放行带)内；单侧+自然限：均值须 ≤ 金色区右界(NL+k·T)，方可放行。
① 过程标准差：σ = T / (6·Cp)
② 放行带半宽（保证 Cpk ≥ Cpk_min）：f = (1 − Cpk_min/Cp) / 2，样本均值须落在 M ± f·T。
③ 最小可检出偏移（置信 z）：δ_min = z·σ/√n。
④ 卡住该放行带所需抽样数：n ≥ [ z / (3·Cp·(1 − Cpk_min/Cp)) ]²。
⑤ OC 曲线：纵轴 = 接收概率 Pa，横轴 = 真实中心偏移 δ(%T)；曲线越靠左越陡，说明设定验证越灵敏。当真实偏移为 0 时 Pa≈1（不误废好设定）；偏移越大 Pa 越低（能拒收偏移设定）。蓝色游标可读任意偏移下的 Pa。
⑥ 匹配原则：检出力（δ_min）必须细于放行带（f·T），否则少件首件形同虚设——此时应增大 n 或补做正式能力研究。
⑦ 单侧公差 + 自然限（VDA 试生产 62.5% 规则）：公差 T = 规格限 − 自然限（如粗糙度/圆度的自然下限 0）。验收区 = NL ~ NL+k·T（k 默认 0.625），距规格限留 (1−k)·T = 37.5%T 缓冲，与双侧 ±12.5% 的缓冲一致。要求均值 ≤ NL+k·T 等价于 Cpk ≥ (1−k)·T/(3σ) = (1−k)·2·Cp（k=0.625、Cp=2 ⇒ Cpk≥0.75）。卡住该带所需 n ≥ [ z / (6·Cp·k) ]²。