ISO 22514-6 · 多变量正态特性的过程能力统计

当一个零件要同时管好几个相关尺寸时,单变量 Cp/Cpk 就不够用了——这一册讲"联合公差区"怎么算能力
ISO 22514-6:2013(E)

1 · 为什么需要"多变量"能力

单变量 Cp/Cpk 管一个尺寸;多变量管"一组相关尺寸"

前面几册(第 4 册计量型、第 3 册机器性能)都默认一个特性、一条规格上下限。但现实中很多关键特性是一组相关量

孔的位置:X、Y 两个坐标 轴的动平衡:两个方向的残余不平衡量 化学产品的多个相关指标 齿轮/凸轮的多尺寸联合

这些量往往相关,而且公差区常常不是"矩形方框",而是圆形、椭圆、圆柱等形状。这时把每个量单独算 Cp 再取最小,会严重高估真实能力——因为单独看每个量都合格,联合起来却可能落在公差区外。

一句话:多变量能力 = 把"特性值"看成 d 维空间里的一个点,看这个点落在联合公差区里的概率有多高。

2 · 两类指数:Type I(概率)与 Type II(体积比)

标准 7.1:定义方式的两种哲学

Type I —— 概率型

把指数和"点落在公差区里的概率 P"挂钩。

核心思路:在公差区中心放一个最大的等值线椭圆(完全落在公差区内),算该椭圆覆盖的概率 P,再换算成指数。

单边:Cpk = (P + 1) / 3
居中:Cp ≈ (P + 1) / 2(单变量映射)

注:严格的多变量公式用"最大可容纳等值椭圆"的概率 P,单变量时 (P+1)/2 正好回到 Cp=Φ⁻¹((P+1)/2)/3 的熟悉形式。

Type II —— 体积比型

把指数定义为公差区体积过程变异区体积之比。

例如 Type IIa:找一个与过程分布同形(椭圆)且完全落在公差区内的区域,用面积/体积比定指数。

Cp_II = (Vtol / Vproc)1/d · a
a = 1/d(常用)
几何尺寸与公差(GD&T,如 ISO 1101 的位置度)多半走 Type I(例:孔位、同轴度)。本册示例以 Type I 为主。

3 · 样本量:至少要 125

标准 5:估计多变量 PCI,样本量最好 ≥ 125

多变量估计比单变量更需要数据——要同时估均值向量和协方差矩阵(d 个量需要估 d(d+1)/2+ d 个参数)。标准明确建议:样本量最好不少于 125 组测量值。

和单变量(第 3 册机器性能建议 ≥30、100 更稳)相比,多变量对样本量要求高得多,这是它最容易被人忽略的坑。

4 · 二维位置公差算例(孔位,n=100)

标准 8.1:Type Ia 指数的完整示例

一个零件上的孔,其位置由 (X, Y) 两个坐标描述,公差区是一个矩形方框

坐标下规格 L上规格 U公差宽
X79.75080.2500.500
Y−116.750−116.2500.500

实测 n = 100 组 (X, Y)。标准给出的结果:

过程性能 Pp
2.43
最小性能 Ppk
1.48
Pp,下 / Pp,上
1.99 / 2.88
Ppk,下 / Ppk,上
1.19 / 1.48
该例 Pp=2.43、Ppk=1.48 均远大于 1.33,说明孔位联合能力很好。注意这里用的是矩形公差区 + Type Ia(概率型)指数,与下面"圆形公差区"的探索器思路一致但形状不同。

5 · 互动探索器:圆形公差区 + 双变量正态

拖动滑块,看"合格概率 P"和"等值椭圆"怎么变

二维能力探索器(公差区 = 以目标为圆心、半径 R 的圆)

默认:R=0.1、σ=0.02、无偏移 → 几乎全部落在圆内(高能力);调大 σ 或加偏移即可看到散点"溢出"圆外
右上角输出里的"等效单变量 Cp"是把联合合格概率 P 反推回单变量公式 Cp=Φ⁻¹((P+1)/2)/3 得到的直觉参考值,方便和前面几册对比;严格的多变量指数由"最大可容纳等值椭圆"的概率决定,本探索器直接给出真实的联合合格概率 P

6 · 单变量 vs 多变量:为什么不能"各算各的再取最小"

相关性会让分别看合格、合起来不合格

假设 X、Y 各自 Cp=1.33(单变量都"合格"),但二者强正相关:当 X 偏大时 Y 也偏大。联合分布被"斜拉成一条",点更容易顶到公差区的上,联合不合格率远高于两个单变量不合格率之和

直觉:单变量指数看的是"每个轴的盒子",多变量指数看的是"真正的公差形状"。公差区越是圆/椭圆(位置度、同轴度),二者的差距越大。

所以标准中 Type I 的等值椭圆法,本质上是用"与过程分布同形的最大椭圆"去贴合公差区——这正是对"分别算再取最小"偏差的修正。

7 · Type Ic / IIc:引入"功能函数"

标准 7.3:把公差区用功能含义重新定义

Type Ic / IIc 在 Type I / II 基础上,多了一个转换函数 q(x)——它把原始特性 x 映射成一个"功能合格度"标量,再按单变量方式算 PCI。

令 q0.5%、q99.865% 为 q 分布的分位数:
Cpk_Ic = (q99.865% − q50%) / (q99.865% − q0.135%)

例(标准图 5 的宽度/对称公差,MMC 下的资格函数 q(x) 由三段直线构成):先按功能把"越偏离名义值越差"量化成 q,再算 q 的分位数。几何规范(第 9 册)大量使用这种思路。

8 · 一维 ↔ 多变量的公式桥梁(附录取 A)

为什么单变量 Cp=(P+1)/2 长这样

单变量时,设过程正态、均值 μ、标准差 σ。把"落在公差 [L,U] 内的最大居中区间"的概率记为 P:

P = Φ(3·Cp) − Φ(−3·Cp) = 2Φ(3·Cp) − 1
Cp = Φ⁻¹((P + 1) / 2) / 3

多变量把"区间"换成"椭圆":Cp 由"最大可容纳等值椭圆"覆盖的概率 P 同样按此映射给出(d=2 时用椭圆、d≥3 时用超椭圆)。这就是为什么 Type I 用概率 P 作核心量——它把单变量公式自然推广到了多维。

9 · 所以呢?(落地建议)

下次遇到"一组相关尺寸"时

① 先判断是否该用多变量。只要公差区不是独立矩形(位置度/同轴度/圆/圆柱/动平衡),或特性间显著相关,就该用本册方法,别再"各算各的取最小"。

② 样本量拉到 ≥125。协方差矩阵要估的参数多,n 太小指数会不稳。

③ 用概率 P 说话。无论是 Type I 还是 II,最终都落到"点落在公差区的概率"。用第 5 节的探索器调一调 σ 和偏移,就能直观看到能力怎么塌。

10 · 数据来源与说明

透明可追溯

本页公式与算例来自 ISO 22514-6:2013(E)。原文件为扫描版,内容经 130 DPI 渲染 + PaddleOCR v4 识别;关键数值(孔位算例 Pp=2.43/Ppk=1.48、Type I/II 定义、样本量≥125)已与原文核对。第 5 节探索器的"联合合格概率 P"由二维数值积分实时计算,可离线复算。

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